دراسة الخصائص التركيبية لاغشية SnO2 باعتماد طريقة Modified Reiteveled Method

تم في هذا البحث تحديد بعض الخواص التركيبية ككثافة العيوب الموضعية Dislocation density، الحجم الحبيبي Grain size، معامل التشكيل Shape factor ومعامل الخشونة Texture coefficient باعتماد طريقة Modified Reiteveled Method من خلال تحليل طيف حيود الاشعة السينية وهذه الطريقة تسمى Line Profile Analysis، لاغشية SnO2 المحضرة بطريقة الرش الكيميائي الحراري والمرسبة على قواعد زجاجية عند درجة حرارة 250oC ذات التركيب متعدد التبلور. حيث اشارت النتائج ان كثافة تزداد مع زيادة عرض قمة المنحني لطيف للمركب وهذا ناتج عن كل التشاكه الاتلافي الذي يحصل داخل حبيبات المادة Coherent Domain Size وزيادة المطاوعة المايكروية Micro strain، اما فكان مرتبط بالشدة كانت اعلى شدة تقابلها اوطئ قيمة للحجم وايضا يرتبط بقيمة الشدة المقاسة عملياً والشدة بطاقة ASTM ويكون ما يمكن عندما يكون القمة للمستوى اقل يمكن.